鉄鋼便覧.第4巻(分析・試験)

日本鉄鋼協会／2014.8.

当館請求記号：PD2-L9

目次

第4巻　目次　[巻リーダー]　藤岡　裕二

• 1.
  分析試験
  [章統括:高山透]
• • 1・1
    鉄鋼分析試験概説
    (田中龍彦)
    1
  • • 1・1・1
      鉄鋼分析試料のサンプリング
      (石橋耀一)
      2
  • • 1・1・2
      鉄鋼分析用の標準物質
      (秋吉孝則)
      4
• • 1・2
    鉄鋼化学分析
    (小熊幸一)
    8
  • • 1・2・1
      湿式化学分析(重量法,滴定法)
      (井田巌)
      10
  • • 1・2・2
      吸光光度分析
      (吉川裕泰)
      14
  • • 1・2・3
      原子吸光分析
      (芦野哲也)
      17
  • • 1・2・4
      電気化学分析
      (田中龍彦)
      21
  • • 1・2・5
      誘導結合プラズマ発光分光分析
      (儀賀義勝)
      26
  • • 1・2・6
      誘導結合プラズマ質量分析
      (千葉光一)
      29
  • • 1・2・7
      フローインジェクション分析
      (山根兵)
      33
  • • 1・2・8
      ガス分析
      (西藤将之)
      37
• • 1・3
    鉄鋼物理分析
    (我妻和明)
    41
  • • 1・3・1
      発光分光分析
      (我妻和明)
      42
  • • 1・3・2
      蛍光X線分析
      (河合潤)
      47
• • 1・4
    組織観察・構造解析
    (佐藤馨)
    55
  • • 1・4・1
      光学顕微鏡
      (池松陽一)
      56
  • • 1・4・2
      透過電子顕微鏡
      (佐藤馨)
      59
  • • 1・4・3
      走査電子顕微鏡
      (佐藤馨)
      63
  • • 1・4・4
      アトムプローブ電界イオン顕微鏡
      (高橋淳)
      68
  • • 1・4・5
      電子線後方散乱回折
      (足立吉隆)
      72
  • • 1・4・6
      三次元組織解析
      (足立吉隆)
      73
  • • 1・4・7
      X線回折
      (米村光治)
      77
  • • 1・4・8
      X線マイクロアナリシス
      (河合潤)
      82
• • 1・5
    材料解析に関わる分析
    (鈴木茂)
    87
  • • 1・5・1
      二次イオン質量分析
      (鈴木茂)
      88
  • • 1・5・2
      オージェ電子分光
      (鈴木茂)
      92
  • • 1・5・3
      X線光電子分光
      (鈴木茂)
      95
  • • 1・5・4
      陽電子消滅法
      (藤浪真紀)
      100
  • • 1・5・5
      メスバウアー分光
      (野村貴美)
      104
  • • 1・5・6
      固体核磁気共鳴分析
      (金橋康二)
      108
  • • 1・5・7
      放射光利用分析技術
      (米村光治)
      113
  • • 1・5・8
      中性子利用分析技術
      (大沼正人)
      117
• • 1・6
    鋼中介在物および析出物の分析
    (井上亮)
    122
  • • 1・6・1
      抽出分離法
      (安原久雄)
      123
  • • 1・6・2
      鋼中介在物および析出物の新しい分析技術
      (安原久雄)
      124
• • 1・7
    プロセスに関わる分析
    (藤本京子)
    126
  • • 1・7・1
      製銑・製鋼工程管理分析
      千野淳
      今里直樹
      宮澤邦夫
      森敦
      近藤裕之
      相本道宏
      127
  • • 1・7・2
      表面処理鋼板製造工程管理分析
      (満尾良弘)
      151
• • 1・8
    環境に関わる分析
    (今北毅)
    163
  • • 1・8・1
      大気汚染防止に関わる分析
      (岩本隆志)
      163
  • • 1・8・2
      水質汚濁防止に関わる分析
      (今北毅)
      167
  • • 1・8・3
      土壌汚染防止に関わる分析
      (倉谷聡)
      173
• • 文献
    178

• 2.
  鋼質試験・機械試験
  [章統括:小林裕和]
• • 2・1
    鋼質試験概説
    (小川宏彦)
    191
• • 2・2
    結晶粒度試験
    (永山宏智)
    191
  • • 2・2・1
      試験方法の種類
      191
  • • 2・2・2
      顕微鏡試験方法
      192
• • 2・3
    マクロ組織
    (小川宏彦)
    193
  • • 2・3・1
      マクロ組織試験方法
      193
• • 2・4
    非金属介在物試験
    (桝田哲智)
    197
  • • 2・4・1
      顕微鏡試験方法
      197
  • • 2・4・2
      介在物の種類
      199
  • • 2・4・3
      非金属介在物試験の現状
      199
• • 2・5
    地きず試験
    (永山宏智)
    201
  • • 2・5・1
      段削り試験方法
      201
  • • 2・5・2
      その他の試験方法
      201
• • 2・6
    表面硬化層および脱炭層深さ試験
    (松久正)
    201
  • • 2・6・1
      硬さ試験による測定方法
      202
  • • 2・6・2
      マクロあるいは顕微鏡組織試験による測定方法
      202
  • • 2・6・3
      化学分析試験による測定方法
      202
  • • 2・6・4
      その他の試験方法
      202
• • 2・7
    焼入性試験
    (松久正)
    203
  • • 2・7・1
      鋼の焼入性試験方法(一端焼入方法)
      203
• • 2・8
    機械試験概説
    (小林裕和)
    206
• • 2・9
    強度特性試験
    207
  • • 2・9・1
      引張試験
      (行徳博)
      207
  • • 2・9・2
      硬さ試験
      (桐原端史)
      225
  • • 2・9・3
      疲れ強さ試験
      (緒方龍二)
      232
  • • 2・9・4
      クリープ試験
      (岡田浩一)
      233
• • 2・10
    破壊特性試験
    (緒方龍二)
    234
• • 2・11
    変形特性試験
    (井上雅隆)
    240
  • • 2・11・1
      深絞り(縮みフランジ変形)性試験の方法
      240
  • • 2・11・2
      張出し(張出し変形)性試験の方法
      240
  • • 2・11・3
      伸びフランジ(変形)性試験の方法
      241
  • • 2・11・4
      曲げ(変形)性試験の方法
      242
  • • 2・11・5
      複合成形性試験の方法
      243
• • 2・12
    製鉄所における材料試験の現状
    (青方友哉)
    243
  • • 2・12・1
      現状の材料試験に至るまで
      243
  • • 2・12・2
      材料試験の自動化状況
      244
  • • 2・12・3
      不確かさ
      244
  • • 2・12・4
      試験所認定
      245
• • 文献
    245

• 3.
  非破壊試験
  [章統括:井田真樹]
• • 3・1
    非破壊試験概説
    (青田隆則)
    247
  • • 3・1・1
      非破壊試験の定義
      247
  • • 3・1・2
      非破壊試験の目的
      247
  • • 3・1・3
      きずの有害性
      247
  • • 3・1・4
      非破壊試験の種類
      248
  • • 3・1・5
      技術者の技量認定
      248
• • 3・2
    放射線透過試験
    (星野郁司)
    248
  • • 3・2・1
      概要
      248
  • • 3・2・2
      原理
      249
  • • 3・2・3
      健全部ときず部の写真濃度
      251
  • • 3・2・4
      試験方法
      251
  • • 3・2・5
      露出条件の求め方
      255
  • • 3・2・6
      透過写真の必要条件の確認
      256
  • • 3・2・7
      安全管理
      256
  • • 3・2・8
      デジタルラジオグラフィ
      256
• • 3・3
    超音波探傷
    (豊永正敏)
    257
  • • 3・3・1
      溶接鋼管の超音波探傷
      257
  • • 3・3・2
      厚板の超音波探傷
      264
  • • 3・3・3
      薄板の超音波探傷
      272
  • • 3・3・4
      継目無鋼管の超音波探傷
      274
  • • 3・3・5
      条鋼の超音波探傷
      279
• • 3・4
    アコースティック・エミッション法
    (長秀雄)
    282
  • • 3・4・1
      はじめに
      282
  • • 3・4・2
      AE計測法
      282
  • • 3・4・3
      AE法の応用
      284
  • • 3・4・4
      AE法による健全性評価に関する国内規格
      287
• • 3・5
    磁粉探傷試験
    (平山悟史)
    287
  • • 3・5・1
      磁粉探傷試験概説
      287
  • • 3・5・2
      磁粉探傷試験の特徴
      291
  • • 3・5・3
      磁粉探傷試験方法
      292
  • • 3・5・4
      磁粉の適用
      296
  • • 3・5・5
      観察
      297
  • • 3・5・6
      後処理
      298
  • • 3・5・7
      標準試験片の種類と使用方法
      298
• • 3・6
    漏洩磁束探傷試験
    (田村博文)
    299
  • • 3・6・1
      漏洩磁束探傷試験方法
      299
  • • 3・6・2
      他の表面きず検出法との比較
      302
  • • 3・6・3
      漏洩磁束探傷試験の鉄鋼製品への適用
      303
  • • 3・6・4
      漏洩磁束探傷試験の規格
      304
• • 3・7
    渦電流探傷試験
    (木邑信夫)
    305
  • • 3・7・1
      渦電流探傷試験方法の基礎
      305
  • • 3・7・2
      渦電流探傷コイル
      306
  • • 3・7・3
      渦電流探傷装置
      308
  • • 3・7・4
      基本作業
      308
  • • 3・7・5
      鉄鋼における利用状況
      312
  • • 3・7・6
      その他の電磁誘導試験
      313
  • • 3・7・7
      規格
      313
• • 3・8
    浸透探傷試験
    (澤清和)
    313
  • • 3・8・1
      浸透探傷試験の基礎
      313
  • • 3・8・2
      試験方法の分類とその手順
      313
  • • 3・8・3
      基本作業
      313
  • • 3・8・4
      浸透探傷試験の特徴
      316
• • 3・9
    非破壊検査技術者の任務
    (藤田裕司)
    317
  • • 3・9・1
      非破壊検査の役割
      317
  • • 3・9・2
      非破壊検査技術者の任務
      317
  • • 3・9・3
      検査員の資格
      318
  • • 文献
      318

• 索引
  321

索引

• A
• • A. C. M.
    278
• • A. G. C.
    279
• • AAS
    127
• • AE
    282
• • AEM
    60, 62
• • AES
    87
• • AEパラメータ
    282
• • APFIM
    68
• • APT
    70
• • ASTM法
    199

• B
• • Backpolish法
    70
• • BOD
    169, 170
• • Braggの法則
    77

• C
• • CCA試験
    239
• • CCD
    58
• • CEMS
    106
• • Certificate
    133
• • CL
    63
• • COD
    163, 169, 170
• • COMAR
    4
• • CP
    109
• • CP/MAS
    109
• • CRAMPS
    109
• • CRM
    4
• • CTOD試験
    234

• D
• • DAS
    110
• • DEPTH
    109
• • DOR
    110
• • D-SIMS
    88
• • DWTT (Drop Weight Tear Test)
    238
• • Dynamic SIMS
    88

• E
• • EBSD
    56, 62, 63, 72
  • • ―-Wilkinson法
      72
• • ECD
    171, 172
• • EDS
    59, 62, 63, 66
• • EDX
    82
• • EELS
    59, 62
• • END-TO-END方式
    258
• • EPMA
    66, 82
• • E-SEM
    68
• • ESSO試験
    239
• • E-TEM
    63
• • EXAFS
    86, 116
• • EXEFS
    86

• F
• • fail safe
    240
• • f-CaO
    151
• • FE
    62
• • FEG
    55, 63
• • FE-TEM
    55
• • FIA
    8, 33
  • • ―シグナル
      35
  • • ―法
      17
• • FIB
    56, 60, 64, 70
• • FID
    167, 171
• • FIM
    68
  • • ―像
      68
• • FP法
    54
• • FTD
    172

• G
• • Gauss-Bonnetの定理
    75
• • GC
    127, 167, 171, 172
• • GC/MS
    167, 171, 172
• • GDOS
    44
• • GDS
    44, 153
• • Goethite
    133

• H
• • Hematite
    133
  • • ―鉱石
      133
• • Heイオン顕微鏡
    68
• • H-Kプロット
    77
• • HPLC
    127

• I
• • ICP
    26, 29, 41, 44
  • • ―-MS
      10, 29
  • • ―-OES
      8, 127
  • • ―質量分析
      8, 10, 170
  • • ―発光分光分析
      8, 125, 127, 133, 152, 170
  • • ―発光分析法
      172

• J
• • JIS法
    197
• • JKチャート
    199

• L
• • LA-ICP-OES
    127
• • Lambert-Beer則
    18
• • Laser Ablation
    127
• • Laue条件
    77
• • LIBS
    45, 127, 146
• • LIPS
    45
• • Lきず
    274

• M
• • MAS
    108
• • MCP
    68
• • metric
    73
• • MQMAS
    110

• N
• • NDT
    247
• • NMR
    108, 127, 151
  • • ―マイクロイメージング法
      138
  • • ―高温NMR
      137, 138
• • NOx
    163
• • NRL落重試験
    238
• • n値
    209

• P
• • Paris則
    240
• • Parrの式
    135
• • PCB
    171
• • PDA
    44
• • Pisolite
    133, 134
• • PIXE
    87

• Q
• • QV
    126

• R
• • REMPI
    90, 139
• • Rietveld法
    119
• • RM
    4
• • r値
    209

• S
• • SAEチャート
    199
• • SAW
    258
  • • ―溶接鋼管
      258
• • SCA
    50
• • Scanning LIPS/LIBS
    46
• • Scherrerの式
    80
• • SDD
    83
• • SEM
    47, 55, 59, 63
• • SIM
    61
• • SIMS
    87, 88
• • SNMS
    90
• • SNUP方式
    259
• • SS
    170
• • SSD
    84
• • S-SIMS
    88
• • Static SIMS
    88
• • STEM
    59, 63
• • STMAS
    110

• T
• • TEM
    55, 59
• • TEM-EDS
    63
• • TEM-EELS
    63
• • Ti添加炭素鋼
    126
• • TOC
    169
• • TOFD
    262
• • TOF型
    118
• • topology
    73
• • TTRR方式
    259
• • Tきず
    274

• U
• • UOE鋼管
    258

• W
• • WDS
    66
• • WDX
    82
• • Williamson-Hallプロット
    80

• X
• • XAFS
    116
• • XANES
    116
• • XMS
    106
• • XPS
    87
• • XRF
    126
• • X線
    248
  • • ―回折
      47, 77, 115, 124, 151
  • • ―管
      48
  • • ―吸収
      47
  • • ―吸収係数
      50
  • • ―吸収端近傍微細構造
      99
  • • ―吸収端微細構造
      116
  • • ―吸収微細構造
      99
  • • ―吸収微細構造法
      86
  • • ―吸収分光法
      47, 99
  • • ―顕微分析
      47
  • • ―光電子
      96
  • • ―光電子分光
      87, 95
  • • ―スペクトル
      48
  • • ―発光微細構造法
      86
  • • ―フィルム
      249
  • • ―マイクロアナリシス
      66, 82
  • • ―マイクロビーム
      47

• あ
• • アーク放電
    44
• • 亜鉛
    169, 170
  • • ―還元ナフチルエチレンジアミン吸光光度法
      166
• • 悪臭物質
    164, 167
• • 悪臭防止法
    163
• • 揚地
    3
  • • ―ファイナル
      129
• • アコースティック・エミッション
    282
  • • ―試験
      248
• • 亜硝酸イオン
    169, 172
• • アスベスト
    164, 167
• • アセチルアセトン系溶液
    125
• • アゾメチンH吸光光度法
    172
• • 厚板
    143, 264
• • 圧潰強度試験
    131
• • 圧壊試験
    2
• • 圧電効果
    282
• • 圧電素子
    282
• • アトムプローブ電界イオン顕微鏡
    68
• • アトムプローブトモグラフィー
    70
• • 穴広げ試験
    241
• • アルカリ融解
    15
• • アルキル水銀化合物
    171
• • アルゴンプラズマ
    27
• • アルデヒド
    164
• • α線
    248
• • アレイ探傷法
    262
• • アンウィンの式
    211
• • 暗視野像
    61
• • 暗視野法
    56
• • アンモニウムイオン
    169, 172
• • アンローダー
    3

• い
• • 硫黄酸化物
    164
• • イオン化ポテンシャル
    89
• • イオン化干渉
    31
• • イオンクロマトグラフィー
    150
• • イオンクロマトグラフ
    132, 164, 166, 172
• • イオン源
    29
• • イオン研磨
    60
• • イオン電極法
    167, 172
• • イオンミキシング
    98
• • 異常発光放電
    125
• • 石綿
    164, 167
• • 異性体シフト
    105
• • 位相
    308
• • 移相器
    308
• • 位相幾何学
    73
• • 位相検波
    308
• • 位相差
    309
  • • ―法
      56
• • 位相速度
    273
• • イタイイタイ病
    173
• • 板波
    272
  • • ―探傷
      272
• • 1DAP
    69
• • 位置検出器
    69
• • 1次X線
    47
• • 一次イオン
    88
• • 1次元アトムプローブ
    69
• • 一次コイル
    307
• • 一次標準比率法
    33
• • 一様伸び
    209
• • 一端焼入
    203
• • 一般炭
    3
• • 一般排出基準
    164
• • イメージインテンシファイア
    256
• • イメージング
    81, 115, 121
  • • ―プレート
      257
• • 鋳物銑
    139
• • 色収差補正
    63
• • 陰極スパッタリング
    44
• • インドフェノール青吸光光度法
    172
• • インピーダンス
    308
• • インライン
    45
• • インレンズSEM
    67

• う
• • ウインクラー・アジ化ナトリウム変法
    170
• • ウェーブレット変換
    284
• • 上置コイル
    308
• • 渦電流
    305
  • • ―探傷試験
      248
• • 渦流効果
    262
• • 埋立
    150
• • ウルトラミクロトーム
    61, 64
• • 上乗せ排出基準
    164

• え
• • 永久磁石
    288
• • 液圧バルジ試験
    240
• • 液体クロマトグラフィー
    127
• • 液体捕集法
    164
• • エシュカ法
    135, 136
• • エチル水銀化合物
    171
• • エッジコントラスト
    66
• • エネルギー可変陽電子消滅法
    102
• • エネルギー分散型
    47, 66, 82
  • • ―X線分光分析
      59, 63
  • • ―X線分光法
      62, 124
• • エネルギー補償器
    69
• • エリクセン試験
    240
• • 塩化水素
    166, 167
• • 塩基度
    149
• • 円錐型ダイヤモンド圧子
    229
• • 円筒鏡面型分光器
    92
• • 円二色偏光X線
    117

• お
• • オイラー・ポアンカレの公式
    75
• • オイラー標数
    75
• • 応力
    233, 247
  • • ―拡大係数
      238
  • • ―増加速度
      220
  • • ―評価法
      119
  • • ―腐食割れ
      247, 284
• • オージェ電子
    92, 97
  • • ―分光
      92
  • • ―分光法
      87
• • オーステナイト
    117
  • • ―結晶粒度
      191
  • • ―分率の定量
      80
• • 汚泥
    150
• • 帯鋼
    4
• • オフセット法
    208
• • オリバーの式
    212
• • 音響放出
    282
• • オンサイト
    45
  • • ―分析
      128, 144
• • 音声認識
    284
• • 温度プログラム
    19
• • オンライン分析
    54, 144

• か
• • カイザー効果
    284
• • 介在物
    15, 122, 123, 124
• • 回折
    117
  • • ―プロファイル
      120
• • 階調計
    253
• • 回転機器
    285
• • 回転強度試験
    131
• • 界面活性剤
    315
• • 改良JKチャート
    199
• • ガウス曲率
    75
• • カオリン
    109
• • 化学炎
    17
• • 化学干渉
    31
• • 化学研磨
    56
• • 化学構造
    108
• • 化学シフト異方性
    108
• • 化学修飾剤
    20
• • 化学状態分析
    97
• • 化学成分
    2
• • 化学的抽出分離法
    124
• • 化学的分離・濃縮法
    20
• • 化学発光法
    166
• • 化学腐食
    56
• • 化学分析
    41
  • • ―の自動化
      33
  • • ―法
      39, 153
  • • ―用鉄鋼認証標準物質
      7
• • 核共鳴前方散乱法
    107
• • 核共鳴非弾性散乱法
    107
• • 核磁気共鳴
    108
  • • ―分光法
      127, 151
• • 核四極子結合定数
    112
• • 核スピン
    109
• • 確度
    42
• • 角度分解
    99
• • 角度分散型
    118
• • 核破砕型
    118
• • 隔膜電極法
    170
• • 核力
    117
• • 加工硬化
    208
  • • ―指数
      209
• • 化合水
    132
• • 可視光方式
    261
• • 荷重
    233
• • ガスクロマトグラフィー
    127
• • ガスクロマトグラフ法
    38, 39, 167
• • カスケード
    88
• • ガス成分
    37
  • • ―分析法
      127
• • ガス分析
    8, 37, 142
  • • ―法
      124, 128
• • ガス容量法
    38, 39
• • 画像処理
    199
• • カソードルミネッセンス
    63
• • 加速器
    118
• • 形鋼
    4
• • 硬さ
    225
  • • ―試験
      225
• • 火点発光分光分析法
    147
• • 火点発光分光法
    127
• • 荷電粒子放射化分析法
    38
• • カドミウム
    169, 170, 173
• • 加熱気化原子吸光法
    171
• • 上降伏点
    208
• • 過よう素酸吸光光度法
    170
• • ガラス
    110
  • • ―ビード法
      55, 128, 149
• • 環境基準
    150
• • 環境基本法
    163, 168, 173
• • 環境制御型SEM
    68
• • 環境制御型TEM
    63
• • 環境負荷物質
    163
• • 環境分析
    127
• • 還元気化原子吸光法
    171
• • 還元蒸留-インドフェノール青吸光光度法
    172
• • 還元粉化率
    128
• • 還元率
    128
  • • ―試験
      2
• • 観察
    313
• • 乾式
    315
  • • ―現像法
      315
  • • ―磁粉
      293
  • • ―法
      296
• • 干渉計
    286
• • 干渉法
    56
• • 慣性効果
    208
• • 間接法
    8
• • 貫通コイル
    307
• • カントバック法
    42
• • 官能試験
    167
• • γ線
    105, 248
  • • ―核共鳴事象
      104

• き
• • ギーセラー最高流動度
    137, 138
• • 機械研磨
    65
• • 機械試験
    206, 207, 225
• • 機械的性質
    209
• • 規格
    150
• • 気化分離
    15
• • 機器分析法
    8
• • 機器分析用鉄鋼認証標準物質
    7
• • 機器分析用鉄鋼標準物質
    4
• • 菊池線
    72
• • 技術標準
    317
• • 基準法(definitive method)
    6
• • きず
    247, 258, 287
• • 気送管
    128
• • 基底状態原子
    17
• • 揮発性有機化合物
    164, 167, 171
• • ギャップ法
    264
• • キャリヤー
    35
• • 球圧子
    226
• • 吸光光度
    8, 14, 124, 131, 132
• • 吸収効果補正
    86
• • 吸収端
    50
• • 球面収差補正
    63
• • キュリー温度
    285
• • キュリー点
    286, 290, 310
• • 凝固核
    122
• • 強磁性体
    117, 289, 290, 310, 313
• • 矯正
    214
• • 共沈
    15
  • • ―分離法
      20
• • 強度特性試験
    207
• • 共鳴X線
    106
• • 共鳴原子核
    104
• • 共鳴周波数
    112
• • 極間法
    293, 295
• • 局所電極
    71
• • 局所分析
    44
• • 極値統計法
    200
• • 局部水浸法
    264
• • 局部伸び
    208
• • 距離振幅特性曲線
    265
• • 切欠付広幅引張試験
    239
• • キレート滴定
    8
• • き裂開口変位
    238
• • き裂伝播停止試験
    239
• • 近距離音場限界距離
    265
• • 金属間化合物
    119
• • 金属顕微鏡
    56
• • 金属組織
    56
• • 金属浴
    41

• く
• • 空孔型欠陥
    100
• • クラスターイオン
    88, 90
• • クリープ
    233
  • • ―曲線
      233
  • • ―制限応力
      233
  • • ―速度
      233
  • • ―強さ
      233
  • • ―破壊
      233, 247
  • • ―破断
      234
  • • ―破断強さ
      234
• • グリーン関数
    283
• • クレータエッジ
    95
• • グロー放電
    42
  • • ―発光分光分析
      144
  • • ―発光分光分析法
      91
  • • ―発光分光法
      153
  • • ―発光分析法
      42
  • • ―プラズマ励起源
      42
• • クロスヘッド変位速度
    220

• け
• • 軽元素
    117
• • 蛍光X線
    47
  • • ―CT
      47
  • • ―分析
      42, 47, 124, 126, 128, 129, 132, 134, 140, 142, 149, 152
• • 蛍光磁粉
    297
• • 蛍光浸透液
    313
• • 蛍光浸透探傷
    314
• • 蛍光スクリーン
    68
• • 蛍光染料
    314
• • 蛍光増倍管
    249
• • 蛍光励起効果補正
    86
• • 形態別硫黄
    135
• • ゲート
    270
  • • ―幅
      46
• • 欠陥
    247, 313, 317
• • 結合エネルギー
    96
• • 結晶方位
    121
• • 結晶粒度
    191
• • ケミカル・モディファイアー
    20
• • 検査
    317
  • • ―液
      292, 296
  • • ―証明書
      133
• • 原子化
    45
• • 原子核
    117
• • 原子価状態
    104
• • 原子吸光
    8, 17, 124, 127, 132, 152
• • 原子発光法
    47
• • 原子番号効果補正
    86
• • 原子番号コントラスト
    65
• • 減弱係数
    249
• • 検収分析
    128, 129, 133
• • 検出・記録部
    34
• • 検出器
    47
• • 検出コイル
    307
• • 原子レベル
    68
• • 原子炉
    118
• • 健全性
    247, 282
• • 現像
    313
• • 元素分析
    135, 136
• • 元素マッピング
    63, 65
• • 原断面積
    219
• • 原料仕様書
    2
• • 検量線
    52
• • 検量線直線範囲(ダイナミックレンジ)
    19
• • 検量線の直線性
    19
• • 原料炭
    2

• こ
• • コイル
    4, 289
  • • ―法
      295
• • 硬X線光電子分光法
    117
• • 硬X線内殻光電子分光法
    99
• • 広域X線吸収微細構造
    100
• • 高温NMR
    137, 138
• • 高温燃焼法
    136
• • 公害対策基本法
    173
• • 光学顕微鏡
    56
• • 光学的シーム倣い方式
    261
• • 鋼管
    4
• • 合金鉄
    2
• • 高合金鋼
    54
• • 鉱さい
    150
• • 鋼材
    4
• • 高サイクル疲れ
    232
• • 光子
    95
• • 格子像
    61
• • 鋼質試験
    191
• • 格子歪み
    80
• • 高周波誘導結合プラズマ
    124
• • 高清浄化鋼
    125
• • 高清浄度鋼
    122
• • 広帯域探触子
    274
• • 高張力鋼板
    123
• • 工程管理
    47
  • • ―分析
      42, 47, 128, 139
  • • ―分析法
      42
• • 光電子分光
    116
  • • ―法
      95
• • 購入原料
    127
• • 鋼板
    4
• • 降伏伸び
    208, 209
• • 降伏比
    209
• • 後方散乱電子
    63
• • 交流脱磁
    298
• • 高炉
    127, 139, 148
  • • ―スラグ
      128, 148
• • コークス
    128
  • • ―化試験
      2
• • コールドクルーシブル
    126
• • 黒鉛
    139
  • • ―製原子化炉(黒鉛炉)
      19
  • • ―炉原子吸光法
      19
  • • ―炉原子吸光光度分析
      8
• • 極低加速SEM
    66
• • 誤差拡大係数
    33
• • 故障
    247
• • 固体NMR
    108
• • 固体材料
    108
• • 固体直接分析法
    21
• • 固体電解質法
    38
• • 固体発光分析法
    40
• • 固体捕集法
    164
• • コットレル雰囲気
    71
• • コニカルカップ試験
    243
• • 後乳化性浸透探傷
    315
• • 固有X線
    47
• • 雇用者認証
    318
• • 固溶定量法
    125
• • コンクリート骨材
    150
• • コンサインメント
    3
• • コントラスト
    250

• さ
• • 再結晶
    122
• • 作業標準
    317
• • 撮影配置
    251
• • サテライト遷移
    111
• • 錆
    285
• • ザルツマン吸光光度法
    166
• • 3, 3'-アミノベンジジン吸光光度法
    171
• • 3DAP
    56, 68
• • 3D-EBSD
    73
• • 3D-SEM
    67
• • 酸化還元滴定
    8
• • 酸化物
    15, 119
  • • ―系介在物
      124
  • • ―系介在物抽出分離法
      124
• • 産業廃棄物
    150
• • 三次元
    73
• • 3次元アトムプローブ
    56, 68
• • 3次元可視化
    57
• • 参照分析法
    6
• • 酸素
    37
• • 三相全波整流
    296
• • 三相半波整流
    296
• • 3点曲げ試験
    239
• • 三波法
    265
• • サンプラー
    3
• • サンプリング
    1, 2, 3, 129, 139
• • 酸分解
    15
  • • ―法
      123
• • 散乱
    117
  • • ―長
      119
  • • ―比
      250
  • • ―メスバウアー分光法
      106
• • 残留応力
    80, 114, 119
• • 残留磁気
    292, 298
• • 残留磁束密度
    290, 298
• • 残留法
    296

• し
• • シアン化合物
    169, 172, 173
• • ジエチルジチオカルバミド酸銀吸光光度法
    170
• • シェフィールド高温法
    136
• • 四塩化炭素抽出物質
    169
• • 磁化
    289
• • 磁界
    288
• • 紫外線
    315
  • • ―吸収法
      164, 166
  • • ―光電子分光法
      95
• • 磁化曲線
    290
• • 磁化電流値
    292
• • 時間分解
    115
• • 地きず
    201
  • • ―番号
      201
• • 磁気探傷
    258
• • 磁気抵抗
    291
• • 磁気ヒステリシス曲線
    290
• • 磁気分離法
    124
• • 磁気変態点
    290
• • 磁気飽和点
    290
• • 磁気飽和電流
    309
• • 磁気モーメント
    105, 117
• • 磁極
    288
• • 四極子相互作用
    108
• • 四極子分裂
    105
• • 磁気量
    289
• • 磁気履歴曲線
    290
• • 軸受け鋼
    143
• • 磁区構造
    117
• • 軸通電法
    293
• • 試験機の剛性
    214
• • 試験周波数
    306
• • 試験所認定
    243, 244, 245
• • 試験片採取位置
    210
• • 試験片つかみ装置
    215
• • 試験方法
    249
• • 試験力検定器
    218
• • 試験力-伸び線図
    207
• • 試験力付加装置
    215
• • 事故
    247
• • 仕事関数
    92, 96
• • 自己誘導形試験コイル
    307
• • 示差熱分析
    151
• • 指示模様
    316
• • 四重極型質量分析計
    89
• • 四重極質量分析計
    31
• • 磁針
    288
• • 磁束
    289, 306
  • • ―貫通法
      294
  • • ―密度
      289
• • 実行値
    293
• • 湿式
    315
  • • ―化学分析法
      8, 127
  • • ―現像法
      315
  • • ―磁粉
      293
  • • ―法
      296
• • 質量吸収係数
    50
• • 質量-電荷比
    88
• • 質量分析器
    68
• • 質量分析法
    29
• • 自動化システム
    140
• • 自動探傷
    267
• • 自動超音波探傷
    267
  • • ―機
      258
• • 自動伸び計
    223
• • 自動引張試験機システム
    222
• • 自動分析システム
    144
• • 自動分析法
    10
• • 磁場
    117, 288
• • ジフェニルカルバジド吸光光度法
    171
• • 磁粉探傷
    287
  • • ―試験
      248, 288
• • 磁粉模様
    292
• • 絞り
    208
• • 下降伏点
    208
• • 斜角探傷
    264
• • 写真濃度
    250
• • 遮蔽効果
    105
• • シャルピー衝撃試験
    234
• • シャワー法
    314
• • 集合組織
    81, 121
• • 収差補正
    61
  • • ―TEM
      56
• • 集束イオンビーム
    56, 60, 64
  • • ―加工法
      70
• • 臭素-メタノール溶解法
    123
• • 集中法
    51, 79
• • 周波数変調
    286
• • 重量分析
    8
• • 重量法
    14, 131, 132, 136, 153
• • 主曲率
    76
• • 縮分
    3
• • 主クリープ破断曲線
    234
• • 種数
    75
• • 準非破壊試験
    225
• • ショア硬さ
    230
• • 小角散乱
    114
  • • ―法
      120
• • 焼結鉱
    128
• • 条鋼
    280
• • 硝酸イオン
    169, 172
• • 硝酸銀滴定法
    167
• • 硝酸法
    123
• • 常磁性体
    117
• • ショートタイムフーリエ変換
    284
• • 除去処理
    315
• • 触媒
    110
• • 初磁化曲線
    290
• • 除鉄
    128
• • ジョミニー法
    203
• • 徐冷スラグ
    148
• • シリアルセクショニング
    73
  • • ―法
      57
• • 試料注入部
    34
• • 試料調製
    1, 2, 127, 128
• • 真空脱ガス炉
    128
• • シンクロトロン放射光
    47, 107
• • 浸漬法
    314
• • 迅速性
    126
• • シンチレーション計数管
    50
• • 浸透
    313
  • • ―液
      314
  • • ―指示模様
      313
  • • ―探傷
      258
  • • ―探傷試験
      248, 313
  • • ―深さ
      309
• • 審判分析
    129
• • 信頼性
    247
• • 森林学習法
    136

• す
• • 水銀
    173
• • 水砕スラグ
    148
• • 水質汚濁防止法
    163, 167
• • 水浸法
    264
• • 水素
    37
  • • ―化物発生ICP発光分光
      170, 171
  • • ―化物発生原子吸光法
      170, 171
  • • ―化物発生法
      29
  • • ―誘起割れ
      283
• • 水柱法
    269
• • 垂直探傷
    258
• • 垂直探触子
    265
• • 水分
    2
  • • ―測定
      2, 128, 129, 130
• • スキルフリー
    35
• • スクラップ
    2
• • スクリーニング
    282
  • • ―分析
      47
• • ステンレス鋼
    52
• • スパークチャンネル
    42
• • スパーク放電
    42
  • • ―発光分光分析
      139, 140
  • • ―発光分光分析法
      125, 126, 128
  • • ―発光分析法
      42
  • • ―発光法
      41
  • • ―プラズマ
      42
• • スパイラル鋼管
    258
• • スパイラル状
    274
• • スパッタ収率
    88, 90
• • スパッタ率
    88
• • スピニングサイドバンド
    109
• • スピノーダル分解
    71
• • スピン
    117
  • • ―偏極SEM
      68
• • スプレー法
    314
• • スペクトルサブトラクション法
    284
• • スラグ
    47, 127, 148
• • スラブ
    4

• せ
• • 成形性試験
    240
• • 製鋼
    127
  • • ―工程
      128
  • • ―スラグ
      109, 128, 148
  • • ―分析
      140
• • 生産管理分析
    48
• • 清浄鋼
    125
• • 製銑
    127
  • • ―スラグ
      42
• • 製品分析
    4
• • 成分分析
    128, 129, 131, 132
• • 赤外線吸収法
    38, 124, 166
• • 赤外線サーモグラフィ試験
    248
• • 赤外線方式
    261
• • 赤外分光分析法
    124
• • 析出強化鋼
    125
• • 析出物
    15, 122, 123, 124
• • 赤色染料
    314
• • 積層欠陥
    81
• • 石炭
    3, 110, 127
• • セクタースキャニング
    262
• • 絶縁体
    72
• • 絶縁破壊
    43
• • 石灰石
    2
• • 接触媒質
    265
• • 絶対定量分析
    54
• • セミミクロケルダール法
    136
• • セメンタイト
    72
• • セメント原料
    148
• • セレン
    171, 173
• • 全硫黄
    135, 136
• • 繊維状粒子
    167
• • センサ
    282
• • 線材
    4, 143
• • 洗浄
    313
  • • ―処理
      315
• • 染色
    314
  • • ―浸透液
      313
• • 全水銀
    171
• • 全水分
    135
• • 選択放電
    43
• • 全窒素
    169
• • 銑鉄
    127, 128, 139
  • • ―分析
      139
• • 全伸び法
    208
• • 全反射蛍光X線分析
    47
• • 線分析
    85
• • 全面斜角探傷
    258
• • 全りん
    172

• そ
• • 送液部
    34
• • 騒音規制法
    163
• • 増感紙
    252
• • 操業管理
    127
• • 双極子相互作用
    108
• • 相互誘導形試験コイル
    307
• • 走査型
    48
  • • ―アトムプローブ
      71
  • • ―オージェ顕微鏡
      94
  • • ―オージェマイクロプローブ
      94
  • • ―電子顕微鏡
      124, 151
• • 走査電子顕微鏡
    47, 55, 59, 63, 82
• • 走査透過電子顕微鏡
    59
• • 双晶変態
    282
• • 相対感度係数
    93
• • 挿入原料
    127
• • 増幅直線性
    270
• • 相変態
    282
• • 総量規制基準
    164
• • 測定誤差
    2
• • 束縛エネルギー
    92, 96
• • 組織観察
    56
• • 組織微細化
    122
• • 注ぎかけ法
    314
• • 速乾式現像法
    316
• • その場観察
    115
• • その場測定
    73
• • ソレノイド
    289
  • • ―コイル
      289
• • 損傷
    282
  • • ―許容評価手法
      240

• た
• • 耐圧試験
    248
• • ダイオキシン
    163, 164, 167, 169, 172, 173
  • • ―類対策特別措置法
      163
• • 大気汚染防止法
    163
• • 第三者認証
    318
• • 代表分析値
    128
• • タイヤ探触子
    272
• • 多元素同時型
    48
• • 多光子共鳴イオン化
    90, 139
• • 多重検出器型質量分析計
    31
• • ダスト
    46, 164
• • 脱酸処理
    123
• • 脱磁
    292
• • 脱炭層深さ
    202
• • 縦型重錘荷重方式
    233
• • 縦緩和時間
    108
• • 縦弾性係数
    208
• • ダブルタイヤ探触子
    273
• • ダブルパルス法
    146
• • 炭化水素
    169
• • 炭化物
    15
• • 探傷
    258
  • • ―軌跡
      274
• • 探触子回転式超音波探傷
    258
• • 探触子固定方式
    258
• • 弾性限度
    208
• • 弾性波
    282
• • 弾性ひずみ
    73, 119
• • 炭素
    55
• • 単相全波整流
    296
• • 単相半波整流
    296
• • 鍛造品
    4
• • 炭素鋼
    52, 72
• • 端部エコー
    258
• • 端面ノイズ
    258

• ち
• • 遅延回路型検出器
    69
• • 遅延時間
    46
• • 地下水
    150
• • 窒化物
    15
• • 窒素
    37, 169
  • • ―化合物
      164
  • • ―酸化物
      166
• • 着色剤
    297
• • チャンネリングコントラスト
    65, 66
• • 中央遷移
    111
• • 抽出分離法
    20, 123
• • 抽出レプリカ
    60
• • 中性子
    117
  • • ―小角散乱法
      126
  • • ―線
      248
• • 鋳造
    128, 140
• • 鋳片
    279
• • 中和滴定
    8
  • • ―法
      172
• • 超音速分子ジェット
    138, 139
• • 超音波探傷
    257, 282
  • • ―試験
      248
• • 直接撮影法
    249
• • 直接酸素定量方法
    136
• • 直接接触法
    264
• • 直接定量方法
    135
• • 直接法
    8
• • 直接捕集法
    164
• • 直流脱磁
    298
• • 直角通電法
    293
• • 沈殿滴定法
    164
• • 沈殿分離
    15

• つ
• • 継目無鋼管
    274
• • 積地
    3
  • • ―ファイナル
      134

• て
• • ディープノッチ試験
    239
• • 低加速SEM
    67
• • 低加速電圧SEM
    66
• • 定形試験片
    212
• • 低合金鋼
    52
• • 低サイクル疲れ
    232
• • 低試験力ビッカース
    228
• • 呈色試薬
    15
• • 低真空SEM
    68
• • ディスク試料
    142
• • 定性
    42
  • • ―分析
      52, 85
• • 低電圧スパーク
    43
• • 定電流電解
    124
• • 定容測圧法
    38
• • 定容測定法
    38
• • 定量
    42
  • • ―分析
      52, 85, 86
• • 滴定
    8
  • • ―法
      14, 129, 131, 132, 134, 137
• • デジタル探傷器
    270
• • デジタルラジオグラフィ
    256
• • デシベルドロップ法
    264
• • 鉄
    170
• • 鉄鋼
    47
  • • ―化学分析
      8
  • • ―スラグ
      148
• • 鉄鉱石
    2, 3, 47, 55, 127
• • 鉄鋼認証標準物質
    4
• • デバイ温度
    104
• • 転位運動
    282
• • 電位差滴定法
    10, 22
• • 転位密度
    72, 81, 120
• • 電界イオン化
    68
• • 電界イオン顕微鏡
    68
• • 電解研磨
    56, 60, 64, 65
  • • ―液
      64
  • • ―法
      70
• • 電解残さ法
    125
• • 電界蒸発
    68
• • 電解はく離法
    154
• • 電解腐食
    56
• • 電解法
    123
• • 電界放射型
    94
• • 電界放射電子銃
    84
• • 電界放出型
    62
  • • ―電子銃
      55, 63
• • 転換電子
    106
• • 電気化学分析
    8, 21
• • 電気加熱原子吸光法
    170
• • 電気抵抗
    292
  • • ―加熱原子吸光法
      17
  • • ―溶接鋼管
      257
• • 電気伝導度
    306
• • 電気伝導率法
    10, 21
• • 電気炉
    127, 148
  • • ―製鋼
      148
• • 電子エネルギー損失分光分析
    59
• • 電子エネルギー損失分光法
    62
• • 電子回折
    60, 61
• • 電磁式探触子
    269
• • 電子親和力
    89
• • 電子線
    83
  • • ―後方散乱回折
      56, 62, 63
  • • ―マイクロアナライザ
      151
• • 電子走査法
    262
• • 電磁波
    41
• • 電磁誘導
    305
  • • ―法
      262
• • 電熱気化法
    29
• • 点分析
    85
• • 電縫鋼管
    257
• • 電離
    42
• • 電流貫通法
    294
• • 電量滴定法
    10, 24
• • 電量法
    38
• • 転炉
    127, 128, 140, 148
• • 電炉
    140
• • 転炉スラグ
    46
• • 転炉製鋼
    148

• と
• • 銅
    169
• • 同位体希釈法
    32
• • 透過X線CT
    47
• • 透過写真
    249
• • 透過電子顕微鏡
    55, 59
• • 透過度計
    253
• • 透過波
    258
• • 透過法
    264
• • 透過力
    117
• • 同期検波
    308
• • 同時計数ドップラー広がり法
    101
• • 透視法
    249
• • 透磁率
    290, 306
• • 導電率法
    38
• • 導波棒
    286
• • トーンバースト波
    273
• • 特殊鋼
    42
• • 特性X線
    47, 66, 83
• • 特定物質の規制等によるオゾン層の保護に関する法律
    163
• • 特定有害物質
    173
• • 特別排出基準
    164
• • 土壌
    47, 150
  • • ―汚染
      173
  • • ―汚染対策法
      163, 173
  • • ―環境基準
      173
  • • ―含有量分析
      173
  • • ―溶出量
      173
  • • ―溶出量分析
      173
• • 突発型
    282
• • ドップラー運動
    105
• • ドップラー効果
    105
• • ドップラー速度
    105
• • ドップラー広がり法
    101
• • トポ像
    66
• • トモグラフィー
    73
• • ドラム強度
    128
• • とりべ分析
    4
• • トレーサビリティ
    5
• • ドロマイト
    2

• な
• • 内圧クリープ
    233
• • 内挿コイル
    308
• • 内部磁場
    104, 105
• • ナフチルエチレンジアミン吸光光度法
    166
• • 鉛
    170, 173
• • 軟化溶融性
    137, 138

• に
• • 2θスキャン方式
    52
• • 二酸化窒素
    166
• • 2次X線
    47
• • 二次イオン質量分析
    88
  • • ―法
      87
• • 2次元マップ
    46
• • 二次コイル
    307
• • 二次精錬
    140
• • 二次製錬
    149
• • 二次精錬炉
    128
• • 二次中性粒子質量分析法
    90
• • 二次電子
    56, 61, 63
  • • ―像
      64, 66, 84
• • 二重収束型質量分析計
    31, 89
• • 2重引張試験
    239
• • 二振動子垂直探触子
    265
• • 二振動子探触子
    267
• • ニッケル超合金鋼
    54
• • 乳化
    315
  • • ―剤
      315
  • • ―時間
      315
  • • ―処理
      315
• • 入射イオン
    88
• • 認証標準物質
    2
• • 認定
    318

• ぬ
• • ぬれ
    315

• ね
• • ねずみ銑
    140
• • 熱重量
    151
• • 熱処理
    123
• • 熱伝導度法
    39
• • 熱割れ試験
    2, 131
• • ネブライザー
    29
• • 燃焼-赤外線吸収法
    128
• • 燃焼容量法
    135

• の
• • ノイズ
    282
• • 農薬
    171, 172
• • 伸び
    209
  • • ―フランジ性試験
      241, 242

• は
• • パーライト鋼
    72
• • 配位構造
    104
• • ばい煙
    163, 164
• • 排ガス
    46, 164
• • 配合計画
    2
• • ばいじん
    150
• • 灰分
    135
• • バウシンガー効果
    214
• • パウダー介在物
    125
• • 破壊
    247
  • • ―現象
      282
  • • ―靱性試験
      238
  • • ―靱性値
      238
• • 鋼
    127, 140
• • 刷毛塗り法
    314
• • 波高値
    292
• • 波高分析器
    50
• • 破損
    247
  • • ―確率
      247
• • 破断時間
    233
• • 破断伸び
    209
• • 波長分散型
    47, 66, 82
• • 発光
    315
  • • ―線
      42
• • 発光分光分析
    26, 42
  • • ―法
      124
• • 発光分光法
    41
• • 発生ガス測定システム
    138
• • 発熱量
    135, 137
• • パラジウム透過法
    39
• • パラジウムを用いた還元共沈分離法
    20
• • パラボラカーソル
    264
• • 張出し性試験
    240
• • パルサー
    273
• • パルスシーケンス
    110
• • パルス中性子源
    118
• • バルバの式
    211
• • ハロゲン分解法
    123
• • 半球型分光器
    93, 96
• • 反磁界
    290
  • • ―係数
      290
• • 反射電子
    63
  • • ―像
      65, 66, 84
• • 反射法
    264
• • 反射率
    137
  • • ―法
      121
• • 半導体
    72
  • • ―素子
      47
• • ハンド超音波探傷
    258
• • 半無限体等方弾性体
    283

• ひ
• • ピーク高さ
    35
• • ピーク面積
    35
• • ビオサバールの法則
    305
• • 比較法
    192
• • 光イオン化断面積
    97
• • 光吸収
    15
• • 光電子顕微鏡
    117
• • 光ファイバ
    286
• • 光分析
    8
• • 被還元性試験
    131
• • 非金属介在物試験
    197
• • 非蛍光磁粉
    297
• • 飛行時間
    69, 118
  • • ―型
      118
  • • ―型質量分析計
      89
• • 非磁性体
    290, 313
• • 微小角入射X線回折
    114
• • 非晶質材料
    119
• • 微小部
    82
• • 非水溶媒滴定法
    38
• • ヒステリシス損
    290
• • ひずみ
    114, 233
  • • ―測定
      248
  • • ―速度
      220, 233
• • 非線形光学素子
    47
• • ひ素
    170, 173
• • 非弾性散乱
    118, 121
• • ビッカース硬さ
    228
• • 引張クリープ
    233
• • 引張試験
    207
  • • ―機
      214
  • • ―方法
      219
• • 引張速度
    219
• • 引張強さ
    208, 209
• • 非粘結炭
    3
• • 非破壊検査
    247, 317
• • 非破壊試験
    247
• • 非破壊評価法
    126
• • 微分干渉法
    56
• • 微分幾何学
    73
• • 標準化体系
    1
• • 標準試料比較法
    52
• • 標準物質
    4
• • 標定精度
    283
• • 表皮効果
    291, 309
• • 表面硬化処理
    201
• • 表面硬化層
    202
• • 表面構造
    81
• • 表面分析
    44
  • • ―法
      87
• • 表面偏析
    94
• • 平鋼
    4
• • ピラミッド型ダイヤモンド圧子
    228
• • 比例計数管
    50
• • 比例限度
    208
• • 比例試験片
    212
• • ビレット
    4
• • 疲労破壊
    247
• • 品質
    247
  • • ―管理
      127, 317
  • • ―保証
      127, 140, 317
  • • ―保証基準
      317
  • • ―保証分析
      139
• • ピン試料
    142
• • ピン止め作用
    122

• ふ
• • ファーネス
    17
• • ファンダメンタルパラメータ(ー)
    54
  • • ―法
      149
• • フィルタ
    310
• • フーリエ変換
    282
• • フェイズドアレイ探傷法
    262
• • フェナントロリン吸光光度法
    170
• • フェノール
    169, 171
  • • ―ジスルホン酸吸光光度法
      166
• • フェライト
    72, 117
  • • ―結晶粒度
      191
  • • ―変態
      122
• • フェロアロイ
    55
• • フォノン状態密度
    104, 108
• • 深さ分解能
    98
• • 深さ方向分析
    90, 94, 98
• • 深絞り性試験
    240
• • 不活性ガス融解-赤外線吸収法
    128
• • 不活性ガス融解-熱伝導法
    128
• • 不感帯
    258
• • 不均質核生成
    122
• • 複合成形性試験
    243
• • ふくれ試験
    131
• • 腐食
    284
  • • ―減肉
      285
  • • ―損傷
      285
  • • ―法
      56
• • 不確かさ
    7, 243, 244
• • 付着量測定
    153
• • 浮沈試験
    137
• • ふっ素
    173
  • • ―化合物
      172
• • 物理干渉
    31
• • 物理試験
    128, 129, 131
• • 物理的性状試験
    2
• • 物理分析
    41
• • プラズマ
    26
• • ブリッジ回路
    308
• • ブリッジバランス
    308
• • ブリネル硬さ
    225
• • ブルーム
    4
• • ブレイクダウン
    45
• • フレーム原子吸光法
    17, 170
• • 不連続部
    247
• • フローインジェクション
    8, 17
• • フロースルーセル
    34
• • プローブコイル
    308
• • プロセス管理分析
    127
• • プロッド法
    293
• • プロトン顕微鏡
    87
• • 分塊材
    279
• • 分解能
    56, 64
• • 分光
    50
  • • ―干渉
      32
  • • ―結晶
      47, 50
• • 分散
    35
  • • ―媒
      296
• • 粉じん
    163, 164, 167
• • 分析精度
    42, 126
• • 分析成分
    126
• • 分析電子顕微鏡
    60
• • 分析透過電子顕微鏡
    62
• • 粉体ブリケット法
    128, 149
• • 粉末回折
    119
• • 分離・濃縮
    35

• へ
• • 平均曲率
    76
• • 平均自由行程
    97
• • 平行ビーム法
    79
• • 平行法
    51
• • ベイナイト鋼
    72
• • β線
    248
• • ヘキサン抽出物質
    169
• • ベッチ数
    75
• • ヘリウムプラズマ
    27
• • ヘリウムマイクロ波誘導プラズマ発光分光法
    125
• • ペレット
    128
• • 変形能力
    209
• • 偏光光学系蛍光X線分析
    47
• • 偏光法
    56

• ほ
• • ポアソン比
    208
• • 方位差
    72
• • 棒鋼
    4, 279
• • 放射光
    113
• • 放射線
    248
  • • ―透過試験
      248
• • ほう素
    172, 173
• • 包蔵水分
    135
• • 飽和磁束密度
    290
• • ポーラログラフィー
    10, 25
• • 補修
    247
• • 母集団
    3
• • 保持力
    290
• • 補正定量法
    54
• • 螢石
    2
• • ポリ塩化ビフェニル
    171
• • ポリキャピラリー
    47
• • ボルタンメトリー
    10, 25
• • ボンブ試料
    142

• ま
• • マイクロチャネルプレート
    68
• • マイクロビーム
    47
• • マイクロビッカース
    228
• • 埋設物
    247
• • マクロ組織試験
    193
• • 曲げ性試験
    242
• • マトリックス効果
    47
• • マルエージング鋼
    283
• • マルテンサイト鋼
    72
• • マルテンサイト変態
    282
• • 丸棒
    279
• • マンガン
    170
  • • ―鉱石
      2

• み
• • 右ねじの法則
    288
• • ミクロトーム
    60
• • 水ギャップ法
    269
• • ミラー変法
    170

• む
• • 無現像法
    316
• • 無反跳分率
    104, 106

• め
• • 明視野像
    61
• • 明視野法
    56
• • メスバウアースペクトル
    104
• • メスバウアー分光法
    104, 151
• • メチル水銀化合物
    171
• • メチレンブルー吸光光度法
    172
• • めっき
    90
  • • ―厚さ
      47
  • • ―液分析
      152
  • • ―鋼板
      47
• • 面分析
    85

• も
• • モーメントテンソル解析
    283
• • 目視試験
    248
• • モディファイアー効果
    20
• • モノクロメータ
    96
• • モリブデン青(アスコルビン酸還元)吸光光度法
    172
• • モリブデン青{すず(II)還元}吸光光度法
    172
• • モリブデン青吸光光度法
    136
• • モル吸光係数
    17
• • 漏れ試験
    248
• • モンテカルロ法
    86

• や
• • 焼ならし
    204, 205
• • 焼き戻し
    72
• • ヤング率
    208

• ゆ
• • 有害元素
    47
• • 有害性
    247
• • 有害大気汚染物質
    163, 164
• • 融解法
    40
• • 有機体窒素
    169
• • 有効磁界
    290
• • 誘導結合プラズマ
    26, 29, 41
• • 誘導電流
    294
• • 遊離CaO
    151
• • 遊離炭素
    140
• • 輸送・反応部
    34

• よ
• • 溶液NMR
    108
• • 溶液導電率法
    164
• • 溶鋼中水素濃度
    147
• • 溶剤
    315
  • • ―除去性浸透液
      315
  • • ―除去性染色浸透探傷試験
      313
• • 溶出
    150
  • • ―試験
      150
• • 溶接鋼管
    4
• • 溶接シーム部
    261
• • 溶接線上探傷法
    260
• • 溶接部
    258
• • 溶接不良
    258
• • 溶銑予備処理
    139, 149
• • 溶存酸素
    170
• • 陽電子
    100
  • • ―寿命測定法
      100
  • • ―プローブマイクロアナライザー
      102
• • 溶媒抽出分離
    15
• • 溶融法
    38
• • ヨーク法
    295
• • 横型ばね負荷方式
    233
• • 横緩和時間
    108, 137, 138

• ら
• • ラテラル波
    263
• • ラミネーション探傷
    274
• • ラミネーション超音波探傷
    258
• • ランクフォード値
    209
• • ランバート・ベールの法則
    15

• り
• • リアルタイム分析
    139
• • リアルタイムモニタリング
    138
• • リービッヒ法
    136
• • リーブ硬さ
    231
• • リニアスキャニング
    262
• • リフトオフ
    309
• • リモートセンシング
    45
• • 粒界偏析
    94
• • 硫化物
    169
  • • ―イオン
      172
• • 粒径分布
    74
• • 硫酸法
    123
• • 粒状性
    252
• • 粒度
    2
  • • ―試験
      128, 129, 131
  • • ―番号
      192
  • • ―分布計測
      124
• • 両側探傷
    258
• • りん
    169
  • • ―化合物
      169, 172
• • 隣接電流法
    295
• • リンバナドモリブデン黄吸光光度法
    136